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Clément Godfrin

Observed names: C. Godfrin, Clement Godfrin, Clément Godfrin, Godfrin, C., Godfrin, Clement, Godfrin, Clément
Institution: IMEC
ORCID: 0000-0002-5244-3474
Observed ORCID: 0000-0002-5244-3474
OpenAlex ID: A5006623105
2017 · Eufemio Moreno-Pineda, Clément Godfrin, et al. · Chemical Society Reviews · 374
2017 · C. Godfrin, A. Ferhat, et al. · Physical Review Letters · 360
2024 · A. Elsayed, M. M. K. Shehata, et al. · npj Quantum Information · 73
2017 · Clément Godfrin, Stefan Thiele, et al. · ACS Nano · 68
2025 · Paul Steinacker, Nard Dumoulin Stuyck, et al. · Nature · 59
2016 · S. Lumetti, A. Candini, et al. · Dalton Transactions · 54
2020 · R. Li, N. I. Dumoulin Stuyck, et al. · Technical digest - International Electron Devices Meeting/Technical digest · 33
2018 · Clément Godfrin, Rafik Ballou, et al. · npj Quantum Information · 32
2025 · Thomas Koch, Clement Godfrin, et al. · npj Quantum Information · 25
2017 · F. Troiani, C. Godfrin, et al. · Physical Review Letters · 24
2021 · N. I. Dumoulin Stuyck, R. Li, et al. · Symposium on VLSI Circuits · 21
2024 · Jonathan A. Gross, Clément Godfrin, et al. · Physical Review Applied · 18
2019 · C. Godfrin, S. Lumetti, et al. · Journal of Applied Physics · 12
2024 · Yosuke Shimura, Clement Godfrin, et al. · Materials Science in Semiconductor Processing · 8
2023 · A. Elsayed, C. Godfrin, et al. · IEEE Symposium on VLSI Technology and Circuits (VLSI Technology and Circuits) · 7
2026 · R. Li, V. Levajac, et al. · Scientific Reports · 6
2020 · G. Simion, F. A. Mohiyaddin, et al. · Technical digest - International Electron Devices Meeting/Technical digest · 6
2022 · K.-H. Kao, C. Godfrin, et al. · IEEE Electron Device Letters · 5
2025 · Victor Yon, Bastien Galaup, et al. · Nano Letters · 4
2024 · N. Dumoulin Stuyck, M.K. Feng, et al. · IEEE Silicon Nanoelectronics Workshop · 4
2024 · Victor Yon, Bastien Galaup, et al. · Machine Learning Science and Technology · 3
2023 · Francesco Lorenzelli, Asser Elsayed, et al. · IEEE European Test Symposium (ETS) · 3
2021 · F.A. Mohiyaddin, R. Li, et al. · Technical digest - International Electron Devices Meeting/Technical digest · 3
2020 · F. A. Mohiyaddin, G. Simion, et al. · International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices · 3
2025 · F. Stampfl, C. Godfrin, et al. · IEEE International Reliability Physics Symposium proceedings · 2
Works count: 82
Citation count: 1,224
H-index: 12
I10-index: 13
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