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平野 貴美

OpenAlex ID: A5024523639
高速 C60クラスターイオンビームを照射した Si 表面構造のエネルギー依存性
2021 · 新田 紀子, 大石脩人, et al. · Institutional Repositories DataBase (IRDB)
Qst高崎イオン照射研究施設(tiara)の現状報告
2019 · 細谷 青児, 倉島 俊, et al.
C60クラスターイオンビームを照射したSiとGeの表面構造
2018 · 村尾, 吉輝 (高知工科大学), 新田, 紀子 (高知工科大学), et al. · Institutional Repositories DataBase (IRDB)
MeV級C60イオンビームの高強度化に向けた負イオン源の開発
2018 · 山田, 圭介, 千葉, 敦也, et al. · Institutional Repositories DataBase (IRDB)
生物試料に対するMeV 級クラスターイオン照射効果の検討
2018 · 長谷, 純宏, 佐藤, 勝也, et al. · Institutional Repositories DataBase (IRDB)
Development of an electron-attachment-type negative fullerene ion source
2018 · 山田, 圭介, 千葉, 敦也, et al. · Institutional Repositories DataBase (IRDB)
Qst高崎イオン照射研究施設(tiara)の現状報告
2018 · 湯山, 貴裕, 倉島, 俊, et al. · Institutional Repositories DataBase (IRDB)
TIARA静電加速器の現状
2018 · 平野, 貴美, 千葉, 敦也, et al. · Institutional Repositories DataBase (IRDB)
Highly-sensitive time-of-flight secondary ion mass spectrometry with high energy cluster ion beams
2018 · 平田, 浩一 (産総研), 山田, 圭介, et al. · Institutional Repositories DataBase (IRDB)
6 MeV C60+ イオンを用いた透過型 SIMS におけるアミノ酸分子の照射損傷
2018 · 石井 洋晶, 澤田 純平, et al.
6 MeV C60+ イオンを用いた透過型 SIMS におけるアミノ酸分子の照射損傷
2018 · 石井, 洋晶 (京大), 澤田, 純平 (京大), et al. · Institutional Repositories DataBase (IRDB)
枯草菌胞⼦におけるクラスターイオン照射効果の検討
2017 · 長谷, 純宏, 佐藤, 勝也, et al. · Institutional Repositories DataBase (IRDB)
高速クラスターイオンと物質との相互作用の研究
2017 · 百合, 庸介, 齋藤, 勇一, et al. · Institutional Repositories DataBase (IRDB)
Study on the coloration response of a radiochromic film to MeV cluster ion beams
2017 · 百合, 庸介, 鳴海, 一雅, et al. · Institutional Repositories DataBase (IRDB)
MeV級C60ビームの生成
2016 · 平野, 貴美, 千葉, 敦也, et al. · Institutional Repositories DataBase (IRDB)
MeV級C60ビームの生成
2016 · 平野, 貴美, 千葉, 敦也, et al. · Institutional Repositories DataBase (IRDB)
TIARA静電加速器の現状
2016 · 平野, 貴美, 平野 貴美 · Institutional Repositories DataBase (IRDB)
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