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貴司山崎

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30pXD-6 高分解能 BF STEM 像の装置定数依存性

2003 · 貴司山崎, 英司浅野, et al. · 日本物理学会講演概要集 · 1

21aAG-4 MABFとHAADF-STEM同時観察による軽元素化合物材料の原子構造評価(21aAG X線・粒子線(電子線・陽電子),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))

2012 · 康稔小高, 貴司山崎 · 日本物理学会講演概要集

21aAG-5 円板状明視野検出器による軽元素検出STEM結像法(21aAG X線・粒子線(電子線・陽電子),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))

2012 · 貴司山崎, 康稔小高, et al. · 日本物理学会講演概要集

21aAG-3 Bloch波法によるFrozen lattice計算とその応用(21aAG X線・粒子線(電子線・陽電子),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))

2012 · 真弘大塚, 貴司山崎, et al. · 日本物理学会講演概要集

27aCL-2 高角度明視野走査透過電子顕微鏡像の検出器位置の精密測定とその影響(27aCL X線・粒子線(電子線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))

2012 · 貴司山崎, 康稔小高, et al. · 日本物理学会講演概要集

27aCL-1 高分解能明視野STEM像のBloch波による解析(27aCL X線・粒子線(電子線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))

2012 · 真弘大塚, 貴司山崎, et al. · 日本物理学会講演概要集

21aJA-8 収束電子線が励起する結晶中の波動場における色収差係数の影響(21aJA X線・粒子線(電子線・陽電子),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))

2011 · 貴司山崎, 康稔小高, et al. · 日本物理学会講演概要集

27pTN-10 ZernikeモーメントとCBED像を用いた歪み解析法の提案(27pTN X線・粒子線(陽電子・電子線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))

2011 · 貴司山崎, 武志添田, et al. · 日本物理学会講演概要集

25pWZ-5 プラズモンロスに空間分布を有するSTEM-EELS像の計算(25pWZ X線・粒子線(電子線),領域10(誘電体格子欠陥,X線・粒子線フォノン))

2010 · 貴司山崎, 康稔小高, et al. · 日本物理学会講演概要集

21aHS-4 球面収差補正STEM像の結像に及ぼす色収差係数の影響(21aHS X線・粒子線(電子線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))

2010 · 和人渡辺, 貴司山崎, et al. · 日本物理学会講演概要集

21aHS-5 高分解能プラズモンロス像の計算方法とその応用(21aHS X線・粒子(電子線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))

2010 · 貴司山崎, 康稔小高, et al. · 日本物理学会講演概要集

Atomic-resolution imaging and analysis with Cs-corrected STEM

2010 · 康稔小高, 貴司山崎, et al. · Fujitsu

球面収差補正stemによる原子分解能評価 (特集富士通プロダクトを支える分析・解析技術)

2010 · 康稔小高, 貴司山崎, et al. · Fujitsu

26aYK-4 多変量解析を応用した高分解能電子顕微鏡像のノイズ処理(X線・粒子線(電子線),領域10,誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)

2009 · 貴司山崎, 康稔小高 · 日本物理学会講演概要集

26aYK-5 高分解能HAADF STEM像における検出角度と像強度の依存性(X線・粒子線(電子線),領域10,誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)

2009 · 康稔小高, 貴司山崎 · 日本物理学会講演概要集

27pRE-8 球面収差補正電磁レンズの色収差係数測定方法(27pRE X線・粒子線(電子線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))

2009 · 貴司山崎, 康稔小高 · 日本物理学会講演概要集

21aRB-1 半極性GaNとドメイン分離GaNの構造解析(21aRB 格子欠陥・ナノ構造(半導体・シミュレーション),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))

2008 · 大輔照井, 貴司山崎, et al. · 日本物理学会講演概要集

26aYF-11 a-Zn_7Sb_2O_ の(110)面に形成される双晶境界の精密構造解析(X線・粒子線(電子線),領域10,誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)

2008 · 幸治倉持, 謙太郎鈴木, et al. · 日本物理学会講演概要集

23aTG-11 スプレー法を用いた遷移金属内包カーボンナノオニオンの作成とその構造解析(ナノチューブ・グラフェンにおける欠陥,領域7,領域10合同講演,領域7,分子性固体・有機導体)

2008 · 琢哉渡邉, 彩子江原, et al. · 日本物理学会講演概要集

26aYF-12 Layer-by-Layer法を用いた非整合多層膜の動力学計算(X線・粒子線(電子線),領域10,誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)

2008 · 真弘大塚, 幸治倉持, et al. · 日本物理学会講演概要集

22pTD-7 Split HOLZ lineを用いた実デバイス中に生じる歪み分布測定(格子欠陥・ナノ構造(金属・半導体),領域10,誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)

2007 · 貴司山崎, 幸治倉持, et al. · 日本物理学会講演概要集

23pTC-4 Absorptive form factorの高速計算(X線・粒子線(電子線),領域10,誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)

2007 · 幸治倉持, 貴司山崎, et al. · 日本物理学会講演概要集

23pTC-2 低指数入射CBED像を用いたSiGe中の湾曲測定(X線・粒子線(電子線),領域10,誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)

2007 · 章宏柏木, 貴司山崎, et al. · 日本物理学会講演概要集

23pTC-5 高分解能共焦点STEM像の結像理論とその可能性(X線・粒子線(電子線),領域10,誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)

2007 · 真弘大塚, 幸治倉持, et al. · 日本物理学会講演概要集

24pTA-6 高温成長半極性面GaNに生じる欠陥構造解析(格子欠陥・ナノ構造(転位・機械的性質),領域10,誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)

2007 · 大輔照井, 貴司山崎, et al. · 日本物理学会講演概要集

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