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H. Amrouch

Institution: Centre de Recherche en Technologie des Semi-conducteurs pour l’Energétique

Observed institution: Centre de Recherche en Technologie des Semi-conducteurs pour l’Energétique

OpenAlex ID: A5069970919

Boron-Oxygen Metastable Defects Degradation of Carrier Lifetime by Illumination in Cz and Multicrystalline P-Type Silicon Wafers

2020 · D. Bouhafs, C. Tahraoui, et al. · Springer proceedings in energy

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