Author

Jo Ellen Perry

Observed names: J. Perry, J.E. Perry, Jo Perry, Perry, Jo Ellen
Observed institution: North Carolina State University
OpenAlex ID: A5075385354
2002 · John Dutton, Marilyn Dutton, et al. · Online Learning · 307
2001 · John Dutton, Marilyn Dutton, et al. · Journal of Engineering Education · 142
1988 · L.B. Page, J.E. Perry · IEEE Transactions on Reliability · 122
1991 · Wendy Myrvold, Kim H. Cheung, et al. · Networks · 83
1994 · L.B. Page, J.E. Perry · IEEE Transactions on Reliability · 72
1989 · L.B. Page, J.E. Perry · IEEE Transactions on Reliability · 69
1989 · L.B. Page, J.E. Perry · IEEE Transactions on Reliability · 51
1988 · L.B. Page, J.E. Perry · IEEE Transactions on Reliability · 38
1986 · Lavon B. Page, Jo Ellen Perry · IEEE Transactions on Reliability · 25
1994 · L.B. Page, J.E. Perry · IEEE Transactions on Reliability · 23
1987 · Lavon B. Page, Jo Ellen Perry · Microelectronics Reliability · 19
1986 · L.B. Page, J.E. Perry · Computers & Chemical Engineering · 15
1991 · L.B. Page, J.E. Perry · Computers & Chemical Engineering · 9
1988 · Lavon B. Page, Jo Ellen Perry · Microelectronics Reliability · 6
1983 · Philip Koltun, Lionel E. Deimel, et al. · ACM Technical Symposium on Computer Science Education (SIGCSE) · 5
1993 · Tom Nute, Lavon Page, et al. · ACM SIGCSE Bulletin · 4
1991 · Lavon B. Page, Jo Ellen Perry · Microelectronics Reliability · 4
1989 · L.B. Page, J.E. Perry · IEEE Transactions on Reliability · 3
1988 · Lavon B. Page, Jo Ellen Perry · Microelectronics Reliability · 2
1983 · Philip Koltun, Lionel E. Deimel, et al. · ACM SIGCSE Bulletin · 2
1990 · Carla D. Savage, Matthias Stallmann, et al. · Algorithmica · 1
1990 · Lavon B. Page, Jo Ellen Perry · Microelectronics Reliability · 1
2019 · R. S. Heyd, Jo Ellen Perry, et al. · LPICo
Works count: 28
Citation count: 1,003
H-index: 12
I10-index: 12
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