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Sylvain David

2011 · M. de Kersauson, M. El Kurdi, et al. · Optics Express · 87
2008 · Etienne Perret, Nicolas Zerounian, et al. · Microelectronic Engineering · 81
2020 · Christophe Vallée, Marceline Bonvalot, et al. · Journal of Vacuum Science & Technology A Vacuum Surfaces and Films · 64
2016 · M. Martin, D. Caliste, et al. · Applied Physics Letters · 62
2003 · S. David, M. El kurdi, et al. · Applied Physics Letters · 58
2008 · M. El Kurdi, X. Checoury, et al. · Optics Express · 52
2001 · S. David, A. Chelnikov, et al. · IEEE Journal of Quantum Electronics · 49
2020 · Maxime Legallais, Hussein Mehdi, et al. · ACS Applied Materials & Interfaces · 38
2010 · Zheng Han, Xavier Checoury, et al. · Optics Communications · 38
2007 · M. El Kurdi, S. David, et al. · Optics Communications · 38
2002 · A. Chelnokov, S. David, et al. · IEEE Journal of Selected Topics in Quantum Electronics · 38
2012 · D. Sam-Giao, D. Néel, et al. · Applied Physics Letters · 33
2003 · K. Wang, S. David, et al. · Journal of Modern Optics · 33
2016 · Y. Bogumilowicz, J.M. Hartmann, et al. · Journal of Crystal Growth · 32
2012 · H.A. Girard, E. Scorsone, et al. · Diamond and Related Materials · 32
2016 · Cédric Mannequin, Alexandru Delamoreanu, et al. · Microelectronic Engineering · 27
2012 · Camille Petit-Etienne, Erwine Pargon, et al. · Journal of Vacuum Science & Technology B Nanotechnology and Microelectronics Materials Processing Measurement and Phenomena · 27
2021 · Tobias Vogel, Nico Kaiser, et al. · IEEE Transactions on Nuclear Science · 26
Works count: 138
Citation count: 1,695
H-index: 26
I10-index: 39
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