Author

J. P. A. J. van Beeck

Observed names: J Van Beeck, J. P. A. J. VAN BEECK, J. P. A. J. van Beek, J. P. van Beeck, J. van Beeck, J.P.A.J. van Beeck, Jeronimus P. A. J. van Beeck, Jeronimus P.A.J. van Beeck, Jeronimus Petrus Antonius Johannes van Beeck, Jeronimus P. A. J. van Beeck
OpenAlex ID: A5112531122
1999 · J. P. A. J. van Beeck, D. Giannoulis, et al. · Optics Letters · 118
2015 · Y. Ozmen, E. Baydar, et al. · Building and Environment · 97
1995 · J. P. A. J. van Beeck, M. L. Riethmuller · Applied Optics · 90
2007 · S. Dehaeck, J. P. A. J. van Beeck · Experiments in Fluids · 59
2001 · Jeronimus P.A.J. van Beeck, Laurent Zimmer, et al. · Particle & Particle Systems Characterization · 56
2005 · S. Dehaeck, J. P. A. J. van Beeck, et al. · Experiments in Fluids · 50
2009 · S. Dehaeck, H. Van Parys, et al. · Experiments in Fluids · 46
2008 · S. Dehaeck, J. P. A. J. van Beeck · Experiments in Fluids · 43
2004 · Maria Rosaria Vetrano, Jeronimus Petrus Antonius Johannes van Beeck, et al. · Applied Optics · 38
2005 · Maria Rosaria Vetrano, Jeronimus Petrus Antonius Johannes van Beeck, et al. · Optics Letters · 35
2005 · Maria Rosaria Vetrano, Jeronimus Petrus Antonius Johannes van Beeck, et al. · Applied Optics · 32
2003 · Jeronimus Petrus Antonius Johannes van Beeck, Thomas Grosges, et al. · Applied Optics · 25
2004 · Dilek Yildiz, Jeronimus P. A. J. van Beeck, et al. · Particle & Particle Systems Characterization · 17
1997 · Jeronimus P. A. J. van Beeck, Michel L. Riethmuller · Particle & Particle Systems Characterization · 13
2007 · S. Dehaeck, J. P. A. J. van Beeck · Applied Optics · 10
2002 · C. Benocci, J. P. A. J. van Beeck · von Karman Institute for Fluid Dynamics eBooks · 10
1996 · J. P. A. J. van Beeck, M. L. Riethmuller · Springer eBooks · 10
2019 · Giacomo Alessi, Tom Verstraete, et al. · Proceedings of the Institution of Mechanical Engineers Part A Journal of Power and Energy · 7
2018 · G. Alessi, L. Koloszar, et al. · Computational methods in applied sciences · 4
2003 · M. R. Vetrano, J. P. A. J. van Beeck, et al. · Proceedings of SPIE, the International Society for Optical Engineering/Proceedings of SPIE · 4
2002 · J.M. Buchlin, J.B. Gouriet, et al. · International Conference on Quantitative InfraRed Thermography (QIRT) · 4
2001 · J. P. van Beeck, M. L. Riethmuller, et al. · Proceedings of SPIE, the International Society for Optical Engineering/Proceedings of SPIE · 3
Works count: 52
Citation count: 1,359
H-index: 15
I10-index: 20
Year
Topic
Type