Author

浩一 (産総研) 平田

Observed names: 平田, 浩一 (産総研), 平田, 浩一(産総研)

OpenAlex ID: A5132392960

Secondary ion mass spectrometry using energetic cluster ion beams: Toward highly sensitive imaging mass spectrometry

2020 · 平田, 浩一(産総研), Yamada, Keisuke, et al. · Institutional Repositories DataBase (IRDB)

C60クラスターイオンビームを照射したSiとGeの表面構造

2018 · 村尾, 吉輝 (高知工科大学), 新田, 紀子 (高知工科大学), et al. · Institutional Repositories DataBase (IRDB)

Formation of nano-porous surface structures by fast C60 beam bombardments

2018 · 土田, 秀次 (京都大学), 新田, 紀子 (高知工科大学), et al. · Institutional Repositories DataBase (IRDB)

Works count: 3

Citation count:

H-index:

I10-index: