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Notizen: Zur Defokussierungsabhängigkeit des Phasenkontrastes bei der elektronenmikroskopischen Abbildung

Year: 1966

Type: article

Source: Zeitschrift für Naturforschung A

DOI: 10.1515/zna-1966-0417

Author: F. Thon

Institution: Siemens (Germany)

Language: German

Topic: Advanced Electron Microscopy Techniques and Applications

Subfield: Structural Biology

Field: Biochemistry, Genetics and Molecular Biology

Domain: Life Sciences

Open Access status: hybrid

Estimated APC paid: $2,712

OpenAlex ID: W2070088124

FWCI: 1.598

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