Work

The Use of Filtered High-Energy X-rays and 60Co for TID Testing of a 32-Bit 28nm FDSOI DSP

Year: 2024

Type: conference-paper

Source: HAL (Le Centre pour la Communication Scientifique Directe)

Authors: Urena Acuna, Alejandro, Favrichon, Julien, Ballier, Aurélien, Robin, Pierre-Alexis, Girones, Vincent, Maraine, Tadec, Saigné, Frédéric, Boch, Jérôme

Institutions: Office National d'Études et de Recherches Aérospatiales, Université de Toulouse, Commissariat à l'Énergie Atomique et aux Énergies Alternatives, CEA Marcoule, Institut des Sciences et technologies pour une Economie Circulaire des énergies bas carbone, Université de Montpellier, Institut d'Électronique et des Systèmes

Language: English

Topic: Radiation Effects in Electronics

Subfield: Electrical and Electronic Engineering

Field: Engineering

Domain: Physical Sciences

Open Access status: closed

OpenAlex ID: W4406601556

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