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Solution Properties Can Strongly Affect X-ray Induced Photochemistry/Radiation Damages through Photoelectron Tracks

Year: 2025

Type: article

Source: The Journal of Physical Chemistry Letters

DOI: 10.1021/acs.jpclett.5c02115

Authors: Lucie Huart, Aashini Rajpal, Corinne Chevallard, Jean-Michel Guigner, Jérôme Palaudoux, Paulo Dasilva, Pascal Mercere, Emmanuel Robert, Marie-Anne Hervé du Penhoat, Christophe Nicolas, Jean-Philippe Renault

Institutions: Centre National de la Recherche Scientifique, Commissariat à l'Énergie Atomique et aux Énergies Alternatives, Université Paris-Saclay, Synchrotron SOLEIL, CEA Paris-Saclay - Etablissement de Saclay, Sorbonne Université, Muséum national d'Histoire naturelle, Nanosciences et Innovation pour les Matériaux, la Biomédecine et l'Énergie, Laboratoire de Chimie Physique - Matière et Rayonnement, Institut de minéralogie, de physique des matériaux et de cosmochimie

Language: English

Topic: X-ray Spectroscopy and Fluorescence Analysis

Subfield: Radiation

Field: Physics and Astronomy

Domain: Physical Sciences

Open Access status: closed

Funder: Agence Nationale de la Recherche

Award: Chemistry triggerred by high-energy photons

OpenAlex ID: W4413976869

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