Work

Evolutionary trends and challenges of 3D NAND flash memory technology

Year: 2025
Type: article
Abstract: 闪存技术自问世以来经历了长达三十余年的迭代发展,逐渐逼近物理极限,随着制程尺寸的持续微缩,存储单元间的串扰问题日益严重,对产品可靠性构成严峻挑战。为进一步提升存储密度并降低成本,三维闪存(3D NAND)技术于2007年应运而生,标志着NAND闪存进入全新纪元。为突破平面闪存(2D NAND)的物理微缩极限,3D NAND闪存技术实现了从平面结构向三维堆叠结构的根本性转变。实现了存储密度的革命性提升,制造工艺从以光刻为主导的平面缩微技术,转向以刻蚀为核心的三维堆叠技术。进入人工智能与大数据时代,3D NAND闪存技术在存储密度、容量、成本和可靠性等方面面临新的要求与挑战。在全球半导体产业竞争加剧的背景下,长江存储开发了以晶栈架构(Xtacking)为代表的创新技术,逐步突破并引领全球3D NAND闪存技术的创新性发展。以下重点梳理长江存储在不同技术节点开发的关键技术与优势,并系统总结3D NAND闪存技术在向高密度、高性能及高可靠性发展过程中的潜在挑战及其解决方案。
Authors: Zongliang HUO, Zhiliang XIA, Nanxiang CHEN
Language: English
Open Access status: bronze
OpenAlex ID: W4416984370
FWCI: 0.448
Cites: 48
Cited by: 1
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