軟x線オペランドxafsでの二次電池の反応解析
Year: 2024
Type: article
Abstract: X線吸収微細構造(X-ray Absorption Fine Structure : XAFS)は、試料の結晶性に依らず、元素選択的に材料の化学状態分析が可能な手法であり、電池材料の化学状態(主に価数変化)分析にとって有力な手法である。近年、SiやSといった化合物が高容量の電極材料として注目されているが、これら材料のキ ャリアイオンとの反応生成物は結晶性が乏しいため、XAFSによる分析は有効と考えられる。一方で、Siや S の XAFS は軟 X 線の利用が必要であり、物質透過能が低く、二次電池材料の分析に重要なオペランド分析を行うことは容易でない。その実現のため、これらのエネルギー帯で透過可能なX線窓材を配置した電気化学オペランドセルを設計・開発した。このセルを利用した研究例として、graphite/SiO混合負極の反応機構解析およびSi系負極の電解液による化学的劣化評価解析について紹介する。
Author: 拓弥 森
Institution: Kobelco Research Institute, Inc. (Japan)
Language: English
Subfield: Radiation
Field: Physics and Astronomy
Domain: Physical Sciences
Open Access status: diamond
OpenAlex ID: W7106711541
FWCI:
Cites:
Cited by:
Related to: