Simulation électrique de l'injection de faute laser dans une cellule mémoire SRAM : une approche à la sensibilisation à la cybersécurité matérielle en BUT GEII
Year: 2025
Type: conference-paper
Author: Pichon, L
Language: English
Subfield: Hardware and Architecture
Field: Computer Science
Domain: Physical Sciences
Open Access status: closed
OpenAlex ID: W7130796110
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