Work

Simple characterization of complex stacking of semiconductors through near field imaging and spectroscop

Year: 2025

Type: conference-paper

Source: HAL (Le Centre pour la Communication Scientifique Directe)

Authors: Tailpied, Laure, Gureghian, Clément, Fossard, Frédéric, Mérot, Jean-Sébastien, Vincent, Grégory, Talierco, Thierry, Fix, Baptiste

Institutions: Université Paris-Saclay, Office National d'Études et de Recherches Aérospatiales, Département Optique et Techniques Associées, Sorbonne Université, Institut des NanoSciences de Paris, Centre National de la Recherche Scientifique, Laboratoire d'Étude des Microstructures, Département Matériaux et structures, Institut d'Électronique et des Systèmes

Language: English

Topic: Near-Field Optical Microscopy

Subfield: Biomedical Engineering

Field: Engineering

Domain: Physical Sciences

Open Access status: closed

OpenAlex ID: W7134771522

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