Get started
Author

Krzysztof Kaczorek

Observed name: K. Kaczorek
OpenAlex ID: A5000804138
SIMS and GDMS depth profile analysis of hard coatings
2008 · Piotr Konarski, Krzysztof Kaczorek, et al. · Vacuum · 18
Quadrupole-based glow discharge mass spectrometer: Design and results compared to secondary ion mass spectrometry analyses
2007 · Piotr Konarski, Krzysztof Kaczorek, et al. · Vacuum · 13
Ion implanted inconel alloy – SIMS and GDMS depth profile analysis
2012 · P. Konarski, K. Kaczorek, et al. · Surface and Interface Analysis · 8
RuO2/SiO2/Si and SiO2/porous Si/Si interfaces analysed by SIMS
2006 · Michał Ćwil, Piotr Konarski, et al. · Applied Surface Science · 8
SIMS depth profile analysis of particles collected in an urban environment
2010 · P. Konarski, K. Kaczorek, et al. · Surface and Interface Analysis · 3
Ion beam analysis of urban aerosol micro and nanoparticles compared with environmentally related children diseases in two Polish towns
2005 · P. Konarski, J. Hałuszka, et al. · Vacuum · 3
Effects of vacuum heating in AISI 410 and AISI 321 stainless steels' surface layer revealed by SIMS/GDMS depth profile analysis
2010 · P. Konarski, K. Kaczorek, et al. · Surface and Interface Analysis · 2
Analiza profilowa układów warstwowych metodą spektrometrii mas wyładowania jarzeniowego
2008 · P. Konarski, K. Kaczorek · Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania · 2
Laboratoryjny zestaw spektrometru mas wyładowania jarzeniowego
2007 · K. Kaczorek, P. Konarski, et al. · 2
Spektrometr mas wyładowania jarzeniowego z analizatorem kwadrupolowym - budowa i parametry
2007 · K. Kaczorek, P. Konarski, et al. · Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania · 2
Metody spektrometrii mas w zastosowaniu do badania materiałów
2006 · P. Konarski, M. Ćwil, et al. · Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania · 1
Spektrometria mas wyładowania jarzeniowego - wykorzystanie kwadrupolowego spektrometru mas
2005 · J. Marks, K. Kaczorek, et al. · Prace Przemysłowego Instytutu Elektroniki · 1
Analiza profilowa układu warstwowego PCB Cu/Ni/Au metodą spektrometrii mas wyładowania jarzeniowego GDMS
2010 · K. Kaczorek, P. Konarski · Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
Spektrometryczna analiza składu pierwiastkowego drobin pyłowych zanieczyszczeń powietrza w środowisku miejskim oraz drobin adsorbowanych w układzie oddechowym mieszkańców aglomeracji miejskiej
2009 · P. Konarski, K. Kaczorek, et al. · Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
Analiza składu pierwiastkowego stopów lutowniczych metodą spektrometrii mas wyładowania jarzeniowego
2009 · K. Kaczorek, P. Konarski · Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
Works count: 16
Citation count: 63
H-index: 4
I10-index: 2
Year
Topic
Type