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英 今井
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A5013565985
Reliability of 1060 nm Vertical Cavity Surface Emitting Lasers (VCSELs) for Optical Interconnect
2012
·
慎一 神谷
, 英 今井
, et al.
·
Combinatorial Pattern Matching
1060nm VCSELの高速変調動作と信頼性(半導体レーザ関連技術,及び一般)
2011
·
理仁 鈴木
, 英 今井
, et al.
·
電子情報通信学会技術研究報告. LQE, レーザ・量子エレクトロニクス
CI-1-4 高信頼・低消費電力1060nm帯面発光レーザ(CI-1.光能動デバイス・装置を支える信頼性・安全性技術,依頼シンポジウム,ソサイエティ企画)
2011
·
英 今井
, 慎一 神谷
, et al.
·
電子情報通信学会ソサイエティ大会講演論文集
低消費電力・高効率1060nm面発光レーザ(半導体レーザ関連技術,及び一般)
2009
·
則広 岩井
, 健生 影山
, et al.
·
電子情報通信学会技術研究報告. LQE, レーザ・量子エレクトロニクス
31aXG-11 不純物をドープした Haldane 系物質 PbNi_2V_2O_8 の低温物性
2003
·
英 今井
, 隆嗣 益田
, et al.
·
日本物理学会講演概要集
8pWB-2 不純物をドープしたHaldane系物質PbNi_2V_2O_8の低温帯磁率測定(量子スピン系(一次元系・二次元系),領域3)
2002
·
英 今井
, 隆嗣 益田
, et al.
·
日本物理学会講演概要集
18pZA-10 Haldane系物質PbNi_2V_2O_8の不純物置換効果
2001
·
英 今井
, 隆嗣 益田
, et al.
·
日本物理学会講演概要集
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