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G. Hein

2008 · B. Kaestner, V. Kashcheyevs, et al. · Physical Review B · 230
2004 · T. Kleine-Ostmann, P. Dawson, et al. · Applied Physics Letters · 221
2001 · T. Kleine-Ostmann, P. Knobloch, et al. · Electronics Letters · 151
2004 · T. Kleine-Ostmann, K. Pierz, et al. · Electronics Letters · 131
2002 · P Knobloch, C Schildknecht, et al. · Physics in Medicine and Biology · 122
2008 · B. Kaestner, V. Kashcheyevs, et al. · Applied Physics Letters · 84
1986 · L Bliek, E Braun, et al. · Semiconductor Science and Technology · 54
1988 · L. Bliek, G. Hein, et al. · Surface Science · 35
2006 · J Schurr, F J Ahlers, et al. · Metrologia · 31
2001 · B. Jeckelmann, A. Rufenacht, et al. · IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement · 28
2005 · S Seitz, M Bieler, et al. · Measurement Science and Technology · 27
1993 · F J Ahlers, G Hein, et al. · Semiconductor Science and Technology · 27
2007 · M. Bieler, S. Seitz, et al. · IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement · 26
2006 · J Schurr, F-J Ahlers, et al. · Metrologia · 24
2002 · J Schurr, J Melcher, et al. · Metrologia · 24
2000 · M. Bieler, G. Hein, et al. · Applied Physics Letters · 20
2008 · J. Schurr, B.P. Kibble, et al. · IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement · 19
2000 · M. Koch, M. Bieler, et al. · physica status solidi (b) · 18
2002 · B. E. Saǧol, G. Nachtwei, et al. · Physical review. B, Condensed matter · 17
2007 · C. Stellmach, G. Vasile, et al. · Physical Review B · 13
2004 · G. Hein, B. Schumacher, et al. · Conference on Precision Electromagnetic Measurements · 13
2004 · M. Bieler, M. Spitzer, et al. · Applied Physics A · 13
2001 · J. Schurr, J. Melcher, et al. · IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement · 13
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Citation count: 1,578
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I10-index: 29
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