Work

Analysis of thermal degradation in Nylon 66 by X-ray photoelectron spectrometry, X-ray diffraction and differential scanning calorimetry.

Year: 1990

Type: article

Abstract: ナイロン66の熱劣化挙動を解析するためX線光電子分光法を主体に各種分析法を用いて分析した.試料は充てん剤や添加剤などを含まないナイロン66を用い80～150℃の間の温度下で熱劣化された試料の表面及び深さ方向分析を行った.その結果,以下の知見が得られた.(1)ナイロン66の熱劣化反応としては,カルボニル基を生成し,結晶化の割合を増加させる反応が起こっており,この傾向は最表面層ほど顕著である.更に,120℃での熱劣化においては,最表面層ではカルボキシル基を生成する反応も同時に起こっていることが確認できた.(2)ナイロン66の熱劣化反応は100～120℃を境に多少異なり,120℃以上ではカルボキシル基の生成を伴う反応が起こっていると推定された.

Source: BUNSEKI KAGAKU

DOI: 10.2116/bunsekikagaku.39.33

Authors: Yushi SHICHI, Yasuhide INOUE, Masaharu ARITA, Jyoji KUNIYA, Tadashi ASHIDA

Institution: Nissan (Japan)

Language: English

Topic: Polymer crystallization and properties

Subfield: Polymers and Plastics

Field: Materials Science

Domain: Physical Sciences

Open Access status: diamond

OpenAlex ID: W54237115

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