Work

Метод Диагностирования Изменений В Топологии Интегральных Микросхем: Оценка Радиационной Стойкости И Обеспечение Доверенности

Year: 2025

Type: article

Source: Nanoindustry Russia

DOI: 10.22184/1993-8578.2025.18.11s.227.229

Authors: Е.А. Кульченков, А.Н. Жаровин, А.А. Демидов, С.Б. Рыбалка

Language: Russian

Topic: Radiation Effects in Electronics

Subfield: Electrical and Electronic Engineering

Field: Engineering

Domain: Physical Sciences

Open Access status: closed

OpenAlex ID: W7123347121

FWCI:

Cites: 1

Cited by:

Related to: 10