Прогнозирование Показателей Безотказности Интегральных Микросхем На Основе Параметров Надежности Используемой Элементной Базы
Year: 2026
Type: conference-paper
Authors: А.В. Соловьев, А.В. Селецкий, А.В. Воеводин
Institution: Research Institute of Molecular Electronics
Language: Russian
Subfield: Safety, Risk, Reliability and Quality
Field: Engineering
Domain: Physical Sciences
Open Access status: closed
OpenAlex ID: W7202081439