Author

Андрей Валерьевич Селецкий

Observed names: A.V. Seletskiy, А.В. Селецкий

Institution: Research Institute of Molecular Electronics

Observed institutions: National Research University of Electronic Technology, Research Institute of Molecular Electronics

ORCID: 0000-0002-3858-6508

Observed ORCID: 0000-0002-3858-6508

OpenAlex ID: A5026366832

Свч-рефлектометрия N-моп Кни-транзисторов

2020 · В.П. Тимошенков, Д.В. Родионов, et al. · Nanoindustry Russia · 3

Capabilities of the Domestic 180-nm CMOS SOI Technology to Design Radio Frequency Transceiver ICsfor Space Applications

2017 · N.A. Usachev, V.V. Elesin, et al. · Proceedings of Universities ELECTRONICS · 2

PDF

Проблемы Подтверждения Требований Надежности Экб Специального Назначения

2020 · А.С. Кравцов, В.Н. Панасюк, et al. · Nanoindustry Russia · 1

Радиационно-ориентированная И Свч-характеризация Техпроцессов Контрактного Производства Экб Тсвчэ, Используемых Отечественными Дц: Состояние, Проблемы И Ближайшие Задачи

2020 · В.В. Елесин, Д.И. Сотсков, et al. · Nanoindustry Russia · 1

Disadvantages of domestic analytical-experimental methods prediction of reliability of the integrated circuits

2020 · SC MERI, A.V. Solovev, et al. · Problems of advanced micro- and nanoelectronic systems development · 1

PDF

Методология Оперативного Контроля Надежности Наноразмерных Моп-транзисторов При Воздействии Горячих Электронов

2026 · А.В. Воеводин, А.В. Селецкий, et al. · Международная Звенигородская конференция по физике плазмы и управляемому термоядерному синтезу

Прогнозирование Показателей Безотказности Интегральных Микросхем На Основе Параметров Надежности Используемой Элементной Базы

2026 · А.В. Соловьев, А.В. Селецкий, et al. · Международная Звенигородская конференция по физике плазмы и управляемому термоядерному синтезу

Моделирование Показателей Надежности С Применением Нейросетевого Подхода

2026 · Д.А. Жевненко, Ф.П. Мещанинов, et al. · Международная Звенигородская конференция по физике плазмы и управляемому термоядерному синтезу

Применение Численного Моделирования При Учете Влияния Накопленной Дозы Ионизирующего Излучения На Деградацию Параметров N-канального Транзистора С Проектной Нормой 0,18 Мкм

2022 · Д.А. Лагаев, А.С. Ключников, et al. · Nanoindustry Russia

Использование Методов Статистического Прогнозирования Деградации Параметров Схемы Для Оценки Показателей Надежности

2022 · А.В. Соловьев, А.В. Селецкий · Nanoindustry Russia

Концепция Обеспечения Радиационной Стойкости Кмоп Кни Технологических Процессов

2022 · А.В. Селецкий, Н.А. Шелепин, et al. · Nanoindustry Russia

Возможности И Перспективы Контрактной Разработки И Производства На Российской Полупроводниковой Фабрике Конкурентоспособной Экб Кремниевой Свч Электроники Для Систем Связи, Радиолокации, Радиочастотной Идентификации, Навигации

2021 · Д.И. Сотсков, Л.И. Бабак, et al. · Nanoindustry Russia

Концепция Обеспечения Радиационной Стойкости Кмоп Кни Технологических Процессов

2021 · А.В. Селецкий, Н.А. Шелепин, et al. · Nanoindustry Russia

2021 · А.В. Соловьев, А.В. Селецкий · Nanoindustry Russia

Применение Методики Статистического Прогнозирования Деградации Параметров Схемы Для Оценки Показателей Надежности

2021 · А.В. Селецкий, А.В. Соловьев · Nanoindustry Russia

2021 · Д.А. Дагаев, А.С. Ключников, et al. · Nanoindustry Russia

Проблемы Подтверждения Требований Надежности Экб Специального Назначения

2020 · А.С. Кравцов, В.Н. Панасюк, et al. · Nanoindustry Russia

Исследование и разработка структур для экстракции параметров моделей схемотехнического учета дозовых радиационных эффектов субмикронных СБИС

2014 · Андрей Игоревич Титов, Николай Алексеевич Шелепин, et al.

Оценка конструктивно-технологических возможностей повышения радиационной стойкости глубоко-субмикронных СБИС

2012 · Андрей Валерьевич Селецкий, Николай Алексеевич Шелепин

Works count: 19

Citation count: 8

H-index: 2

I10-index: