Author

Hiroshi Tokumoto

1998 · Alexei Gruverman, Orlando Auciello, et al. · Annual Review of Materials Science · 496
2005 · Yutaka Maeda, Shin-ichi Kimura, et al. · Journal of the American Chemical Society · 305
1996 · A. Gruverman, O. Auciello, et al. · Applied Physics Letters · 243
1995 · Oleg Kolosov, Alexei Gruverman, et al. · Physical Review Letters · 243
1996 · A. Gruverman, O. Auciello, et al. · Journal of Vacuum Science & Technology B Microelectronics and Nanometer Structures Processing Measurement and Phenomena · 225
1997 · A. Gruverman, H. Tokumoto, et al. · Applied Physics Letters · 221
2007 · Chihiro Yogi, Kazuo Kojima, et al. · Thin Solid Films · 207
2001 · A. Gruverman, A. Kholkin, et al. · Applied Physics Letters · 171
2000 · Suzanne P. Jarvis, Takayuki Uchihashi, et al. · The Journal of Physical Chemistry B · 161
1997 · Takao Ishida, Shin'ichi Yamamoto, et al. · Langmuir · 146
1996 · S. P. Jarvis, H. Yamada, et al. · Nature · 138
2002 · Takao Ishida, Wataru Mizutani, et al. · The Journal of Physical Chemistry B · 133
1997 · A Gruverman, O Auciello, et al. · Nanotechnology · 128
2008 · Hiroshi Yamamura, Katsuki Kimura, et al. · Environmental Science & Technology · 127
2000 · Takao Ishida, Wataru Mizutani, et al. · The Journal of Physical Chemistry B · 122
2004 · Yutaka Maeda, Shin-ichi Kimura, et al. · The Journal of Physical Chemistry B · 103
1999 · Takao Ishida, Wataru Mizutani, et al. · The Journal of Physical Chemistry B · 101
1995 · Yukinori Morita, Hiroshi Tokumoto · Applied Physics Letters · 95
1995 · A. Gruverman, O. Kolosov, et al. · Journal of Vacuum Science & Technology B Microelectronics and Nanometer Structures Processing Measurement and Phenomena · 91
1992 · K. Itaya, R. Sugawara, et al. · Applied Physics Letters · 90
2009 · Shinichiro Hiratsuka, Yusuke Mizutani, et al. · Ultramicroscopy · 89
1999 · Mark A. Lantz, Suzanne P. Jarvis, et al. · Chemical Physics Letters · 87
1997 · Alexei L. Gruverman, Jun Hatano, et al. · Japanese Journal of Applied Physics · 87
2000 · Y. Kondo, T. Amakusa, et al. · Surface Science · 84
Works count: 365
Citation count: 8,846
H-index: 48
I10-index: 172
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