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Caractérisation structurale et morphologique de couches minces épitaxiées de Cd1-xZnxTe déposées sur GaAs(001) par ablation laser

Year: 1998

Type: article

Source: Journal de Physique IV (Proceedings)

DOI: 10.1051/jp4:1998532

Authors: J. L. Deiss, J. L. Loison, D. Ohlmann, M. Robino, C. Ulhaq-Bouillet, G. Versini

Institutions: Centre National de la Recherche Scientifique, Institut de Physique et Chimie des Matériaux de Strasbourg

Language: French

Topic: Advanced Semiconductor Detectors and Materials

Subfield: Electrical and Electronic Engineering

Field: Engineering

Domain: Physical Sciences

Open Access status: closed

OpenAlex ID: W2014073264

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