Thermal effects modeling of multi-fingered MOSFETs based on new specific test structures
Year: 2009
Type: conference-paper
Authors: S. Hniki, G. Bertrand, S. Ortolland, M. Minondo, B. Rauber, C. Raynaud, A. Giry, O. Bon, H. Jaouen, F. Morancho
Institutions: Centre National de la Recherche Scientifique, Université Toulouse III - Paul Sabatier, Laboratoire d'Analyse et d'Architecture des Systèmes, Institut National des Sciences Appliquées de Toulouse, STMicroelectronics (France), Université de Toulouse, Commissariat à l'Énergie Atomique et aux Énergies Alternatives, Laboratoire d'Électronique des Technologies de l'Information
Language: English
Subfield: Electrical and Electronic Engineering
Field: Engineering
Domain: Physical Sciences
Open Access status: closed
OpenAlex ID: W2020676173