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B. Grimbert

2006 · M.J. Uren, K.J. Nash, et al. · IEEE Transactions on Electron Devices · 234
2005 · D. Ducatteau, A. Minko, et al. · IEEE Electron Device Letters · 131
2012 · F. Medjdoub, M. Zegaoui, et al. · IEEE Electron Device Letters · 94
2006 · A. Sozza, C. Dua, et al. · Technical digest - International Electron Devices Meeting/Technical digest · 90
2011 · Farid Medjdoub, Malek Zegaoui, et al. · Applied Physics Express · 86
2013 · Paul Sangaré, Guillaume Ducournau, et al. · Journal of Applied Physics · 76
2009 · Marc Faucher, Bertrand Grimbert, et al. · Applied Physics Letters · 61
2012 · A. Íñiguez-de-la-Torre, I. Íñiguez-de-la-Torre, et al. · Journal of Applied Physics · 59
2004 · A. Minko, V. Hoel, et al. · IEEE Electron Device Letters · 54
2013 · Farid Medjdoub, Bertrand Grimbert, et al. · Applied Physics Express · 46
2012 · M. Gassoumi, B. Grimbert, et al. · Semiconductors · 46
2011 · Farid Medjdoub, N. Waldhoff, et al. · IEEE Electron Device Letters · 46
2015 · Farid Medjdoub, Riad Kabouche, et al. · Applied Physics Express · 32
2012 · F. Medjdoub, Y. Tagro, et al. · IEEE Electron Device Letters · 32
2015 · N. Herbecq, I. Roch‐Jeune, et al. · Electronics Letters · 29
2006 · G. Soubercaze-Pun, J.G. Tartarin, et al. · IEEE MTT-S International Microwave Symposium digest · 29
2005 · De Jaeger, J.C., Delage, S. L., et al. · AMS Acta (University of Bologna) · 25
2013 · Gaudenzio Meneghesso, Matteo Meneghini, et al. · IEEE Transactions on Device and Materials Reliability · 20
2002 · M. François, J. Danglot, et al. · Microelectronic Engineering · 20
2013 · Jeremie Torres, Philippe Nouvel, et al. · Semiconductor Science and Technology · 18
2005 · A. Sozza, C. Dua, et al. · Electronics Letters · 18
2012 · Fanny Berthet, Yannick Guhel, et al. · Solid-State Electronics · 17
2018 · H Sánchez-Martín, S Sánchez-Martín, et al. · Semiconductor Science and Technology · 16
Works count: 104
Citation count: 1,531
H-index: 20
I10-index: 32
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