Year: 2012
Type: dissertation
Abstract: Cette thèse vise l’étude de techniques de type BIST pour un front-end RF, considérant des nouveaux types des capteurs intégrés très simples pour l’extraction de signaux. Ces signaux et les stimuli de test associés seront par la suite traités par des algorithmes de l’apprentissage automatique qui devront permettre une prédiction des performances des différents blocs du système. Une évaluation des capteur proposés en tant que métriques de test paramétrique et couverture des fautes catastrophique sera nécessaire pour pouvoir aboutir à des techniques de test à bas coût pour le test de production, permettant une réduction importante du coût de revient des produits.
Source: theses.fr (ABES)
Author: Louay Abdallah
Language: French
Subfield: Hardware and Architecture
Field: Computer Science
Domain: Physical Sciences
Open Access status: green
OpenAlex ID: W813764161